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      中國環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)列表

      日期:2025-05-09 20:26
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      摘要:
       
      標(biāo)  準(zhǔn) 編 號
      標(biāo)   準(zhǔn)      
      GB10586-89
      濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
      GB10587-89
      鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件
      GB10588-89
      長黴試驗(yàn)箱技術(shù)條件
      GB10589-89
      低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
      GB10590-89
      低溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
      GB10591-89
      高溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
      GB10592-89
      高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
      GB11158-89
      高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
      GB11159-89
      低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
      GB/T5170.1-1995
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法   總則
      GB/T5170.2-1996
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法   溫度試驗(yàn)設(shè)備
      GB/T5170.5-1996
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法   濕熱試驗(yàn)設(shè)備
      GB/T5170.8-1996
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法   鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
      GB/T5170.9-1996
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法   太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備
      GB/T5170.10-1996
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法   高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
      GB/T5170.11-1996
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法    腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備
      GB5170.13-85
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法    振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái)
      GB5170.14-85
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法   振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)
      GB5170.15-85
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法   振 動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)
      GB5170.16-85
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法   恒加速度試驗(yàn)用離心式試驗(yàn)機(jī)
      GB5170.17-87
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法   低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備
      GB5170.18-87
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法   溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備
      GB5170.19-89
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法   溫度/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)設(shè)備
      GB5170.20-90
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法   水試驗(yàn)設(shè)備
      GB2421-89
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 總則
      GB/T2422-1995
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)   術(shù)語
      GB2423.1-89
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
      GB2423.2-89
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
      GB/T2423.3-93
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法
      GB/T2423.4-93
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法
      GB/T2423.5-1995
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)   第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:衝擊
      GB/T2423.6-1995
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)   第3部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則:碰撞
      GB/T2423.7-1995
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)   第4部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒
       
      (主要用於設(shè)備樣品)
      GB/T2423.8-1995
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)   第5部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落
      GB2423.9-89
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱試驗(yàn)方法
      GB/T2423.10-1995
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則:振動(dòng)(正弦)
      GB/T2423.11-1997
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法以 試驗(yàn)Fd:寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)—一般要求
      GB/T2423.12-1997
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fda:寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)—高再現(xiàn)性
      GB/T2423.13-1997
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fdb:寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)—中再現(xiàn)性
      GB/T2423.14-1997
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fdc:寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)—低再現(xiàn)性
      GB/T2423.15-1995
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則:穩(wěn)態(tài)加速度
      GB/T2423.16-1999
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J和導(dǎo)則:長黴
      GB/T2423.17-93
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ka:鹽霧試驗(yàn)方法
      GB2423.18-2000
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kb:交變鹽霧試驗(yàn)方法(氯化鈉溶液)
      GB2423.19-81
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kc:接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)方法
      GB2423.20-81
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kd:接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)方法
      GB2423.21-91
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法
      GB2423.22-87
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法
      GB/T2423.23-1995
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Q:密封
      GB/T2423.24-1995
      電工電了產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Sa:模似地麵上的太陽輻射
      GB/T2423.25-92
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)
      GB/T2423.26-92
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)
      GB2423.27-81
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方法
      GB2423.28-82
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)T:錫焊試驗(yàn)方法
      GB2423.29-1999
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)U:引出端及整體安裝件強(qiáng)度
      GB2423.30-1999
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第3部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)XA和導(dǎo)則:在清洗劑中浸漬
      GB2423.31-85
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 傾斜和搖擺試驗(yàn)方法
      GB2423.32-85
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 潤濕稱量法可焊性試驗(yàn)方法
      GB2423.33-89
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kca:高濃度二氧化硫試驗(yàn)方法
      GB2423.34-86
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法
      GB2423.35-86
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程  試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)
       
      (正弦)綜合試驗(yàn)方法
      GB2423.36-86
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BFc:散熱和非散熱樣品的高溫/振動(dòng)(正弦)
       
      綜合試驗(yàn)方法
      GB2423.37-89
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程  試驗(yàn)L:砂塵試驗(yàn)方法
      GB2423.38-90
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)R:水試驗(yàn)方法
      GB2423.39-90
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ee:彈跳試驗(yàn)方法
      GB/T2423.40-1997
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cx::未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
      GB/T2423.41-94
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 風(fēng)壓試驗(yàn)方法
      GB/T2423.42-1995
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 低溫/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法
      GB/T2423.43-1995
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在衝擊(Ea)、
       
       碰撞(Eb)、  振動(dòng)(Ec和Fd)和穩(wěn)態(tài)加速度(Ga)等動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)中的安裝要求和導(dǎo)則
      GB/T2423.44-1995
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eg:撞擊 彈簧錘
      GB/T2423.45-1997
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABDM:氣候順序
      GB/T2423.46-1997
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ef:撞擊 擺錘
      GB/T2423.47-1997
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fg:聲振
      GB/T2423.48-1997
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ff:振動(dòng)—時(shí)間曆程法
      GB/T2423.49-1997
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fe:振動(dòng)—正弦拍頻法
      GB2424.1-89
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
      GB/T2424.2-93
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則
      GB2424.9-90
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 長黴試驗(yàn)導(dǎo)則
      GB/T2424.10-93
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 大氣腐蝕加速試驗(yàn)的通用導(dǎo)則
      GB2424.11-82
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)導(dǎo)則
      GB2424.12-82
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)導(dǎo)則
      GB2424.13-81
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
      GB/T2424.14-1995
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 太陽輻射試驗(yàn)導(dǎo)則
      GB/T2424.15-92
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
      GB/T2424.17-1995
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 錫焊試驗(yàn)導(dǎo)則
      GB2424.18-82
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 在清洗劑中浸漬試驗(yàn)導(dǎo)則
      GB2424.19-84
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 模 擬貯存影響的環(huán)境試驗(yàn)導(dǎo)則
      GB2424.20-85
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 傾斜和搖擺試驗(yàn)導(dǎo)則
      GB2424.21-85
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 潤濕稱量法可焊性試驗(yàn)導(dǎo)則
      GB2424.22-86
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度(低溫、高溫)和振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
      GB2424.23-90
      電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 水試驗(yàn)導(dǎo)則
      GB/T2424.24-1995
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
      GB10593.1-89
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測量方法 振動(dòng)
      GB10593.2-90
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測量方法 鹽霧
      GB10593.3-90
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測量方法 振動(dòng)數(shù)據(jù)處理和歸納
      GB11804-89
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件術(shù)語
      GB4796-84
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)分類及其嚴(yán)酷程度分級
      GB4797.1-84
      電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件       溫度和濕度
      GB4797.2-86
      電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件       海拔與氣壓、水深與水壓
      GB4797.3-86
      電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件       生物
      GB4797.4-89
      電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件       太陽福射與溫度
      GB/T4797.5-92
      電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件       降水和風(fēng)
      GB/T4797.6-1995
      電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件       塵、沙、鹽霧
      GB4798.1-86
      電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件       貯存
      GB/T4798.2-1996
      電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件       運(yùn)輸
      GB4798.3-90
      電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件       有氣候防護(hù)場所固定使用
      GB4798.4-90
      電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件       無氣候防護(hù)場所固定使用
      GB4798.5-87
      電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件       地麵車輛使用
      GB/T4798.6-1996
      電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件       船用
      GB4798.7-87
      電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件       攜帶和非固定使用
      GB/T4798.9-1997
      電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件       產(chǎn)品內(nèi)部的微氣候
      GB/T4798.10-91
      電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件       導(dǎo)言
      GB/T13952-92
      移動(dòng)式平臺(tái)及海上設(shè)施用電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件參數(shù)分級
      GB/T16422.1/1996
      塑料實(shí)驗(yàn)室光源曝露試驗(yàn)方法     **部分    通則
      GB/T2951.1~2951.10-1997
      電纜絕緣和護(hù)套料通用試驗(yàn)方法
      GB/T14597-93
      電工產(chǎn)品不同海拔的氣候環(huán)境條件
      GB11606.1~11606.17-89
      分析儀器環(huán)境試驗(yàn)方法
      GB12085.1~12085.14-89
      光學(xué)和光學(xué)儀器   環(huán)境試驗(yàn)方法
      GB6999-86
      環(huán)境試驗(yàn)用相對濕度查算表
      GB/T6031-1998
      硫化橡膠或熱塑性橡膠硬度的測定
      GB/T17782-1999
      硫化橡膠壓力空氣熱老化試驗(yàn)方法
      GB9868-88
      橡膠獲得高於或低於常溫試驗(yàn)溫度通則
      GB/T12831-91
      硫化橡膠人工氣候(氙燈)老化試驗(yàn)方法
      GB/T12584-90
      橡膠或塑料塗覆織物低溫衝擊試驗(yàn)
      GB/T14710-93
      醫(yī)用電氣設(shè)備環(huán)境要求及試驗(yàn)方法
      GB14048.3-93
      低壓開關(guān)設(shè)備和控製設(shè)備低壓開關(guān) 隔離器   隔離開關(guān)及熔斷器組合器
      GB8747-87
      氣象用玻璃液體溫度表
      GB/T7020-86
      中空玻璃測試方法
      GB3100~3102-93
      量和單位
      GB3836.1-2000
      爆作性氣體環(huán)境用電設(shè)備   第1部分:通用要求
      GB3836.2-2000
      爆作性氣體環(huán)境用電設(shè)備   第2部分:隔爆型"d'
      GB11605-89
      濕度測量方法
      GB/T4857.7-92
      包裝、運(yùn)輸包裝件 正弦頻振動(dòng)試驗(yàn)方法
      GB/T4857.9-92
      包裝、運(yùn)輸包裝件噴淋試驗(yàn)方法
      GB/T4857.3-92
      包裝運(yùn)輸包裝件靜載荷堆碼試驗(yàn)方法
      GB/T5398-1999
      大型運(yùn)輸包裝件試驗(yàn)方法
      GB/T4857.5~4857.6-92
      包裝、運(yùn)輸包裝件   跌落試驗(yàn)方法    滾動(dòng)試驗(yàn)方法
      GB/T4857.2-92
      包裝、運(yùn)輸包裝件溫濕度調(diào)節(jié)處理
      GB/T19000.2-1994
      質(zhì)量管理和保證標(biāo)準(zhǔn) **部分:GB/T19001,19002,19003
      GB/T19004.2-1994
      質(zhì)量管理和質(zhì)量體係表 第2部分:服務(wù)指南
      GB/T19003-1994
      質(zhì)量體係:終檢驗(yàn)和試驗(yàn)的質(zhì)量保證模式
      GB/T19004.3
      第三部分:流程性材料指南
      GB/T19004.4-1994
      質(zhì)量管理和質(zhì)量體係要素 第四部分:質(zhì)量改進(jìn)指南
      GB/T15497-1995
      企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)體係 技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)體係的構(gòu)成和要求
      GB/T15498-1995
      企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)體係 管理標(biāo)準(zhǔn)工作標(biāo)準(zhǔn)體係的構(gòu)成和要求
      GB/T1.1-2000
      標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則   第1部分:標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)和編寫規(guī)則
      GB/T13017-1995
      企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)表編製指南
      GB/T13264-91
      不合格品率的小批計(jì)數(shù)抽樣檢查程序及抽樣表
       
       
       
       
      JB2678-80
      電工產(chǎn)品高原使用環(huán)境條件
      JB2853-80
      電工產(chǎn)品、儀器儀表基本環(huán)境條件
      JB3157-82
      電工產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)分級(氣候與化學(xué)環(huán)境因素部分)
      JB4160-85
      電工產(chǎn)品的熱帶自然環(huán)境條件
      JB4375-86
      電工產(chǎn)品戶外、戶內(nèi)腐蝕場所使用環(huán)境條件
      JB/T5520-91
      乾燥箱技術(shù)條件
      JB/T5377-91
      恒 溫水槽 技術(shù)條件
      JB/T6862-93
      溫濕度計(jì)
      JB/T5376-91
      低溫恒溫槽技術(shù)條件
      JB/T6823-93
      生物人工氣候箱技術(shù)條件
      JB/T5219-91
      工業(yè)熱電偶型式基本參數(shù)及尺寸
      JB/T5405-91
      薄膜鍵盤技術(shù)條件
      JB/T5451-91
      微動(dòng)開關(guān)通用技術(shù)條件
      JB/T5582-91
      鎧裝熱電偶
      JB/T5583-91
      工業(yè)熱阻型式基本參數(shù)及尺寸
      JB/T6170-92
      壓力傳感器通用技術(shù)條件
      JB/T6174-92
      儀器儀表功能電路板老化工藝規(guī)範(fàn)
      JB/T6239.1~.5-92
      工業(yè)自動(dòng)化儀表通用試驗(yàn)方法
      JB1012-91
      YY係列單相異步電動(dòng)機(jī)技術(shù)條件
      JB/T8514.1~8514.3-1997
      企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則
       
       
       
       
      GJB150.1-86
      **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法     總則
      GJB150.2-86
      **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法     低氣壓(高度)試驗(yàn)
      GJB150.3-86
      **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法     高溫試驗(yàn)
      GJB150.4-86
      **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法     低溫試驗(yàn)
      GJB150.5-86
      **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法      溫度衝擊試驗(yàn)
      GJB150.6-86
      **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法      溫度—高度試驗(yàn)
      GJB150.7-86
      **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法      太陽輻射試驗(yàn)
      GJB150.8-86
      **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法      淋雨試驗(yàn)
      GJB150.9-86
      **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法      濕熱試驗(yàn)
      GJB150.10-86
      **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法     黴菌試驗(yàn)
      GJB150.11-86
      **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法      鹽霧試驗(yàn)
      GJB150.12-86
      **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法      砂塵試驗(yàn)
      GJB150.13-86
      **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法     爆炸性大氣試驗(yàn)
      GJB150.14-86
      **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法      浸漬試驗(yàn)
      GJB150.15-86
      **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法       加速度試驗(yàn)
      GJB150.16-86
      **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法       振動(dòng)試驗(yàn)
      GJB150.17-86
      **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法     噪聲試驗(yàn)
      GJB150.18-86
      **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法     衝擊試驗(yàn)
      GJB150.19-86
      **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法      溫度—濕度—高度試驗(yàn)
      GJB150.20-86
      **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法      飛機(jī)炮振試驗(yàn)
      GJB128A-97
      半導(dǎo)體與立器件試驗(yàn)方法
      GJB33A-97
      半導(dǎo)體分立器件     總規(guī)範(fàn)
      GJB548A-96
      微電子器件試驗(yàn)方法和程序
      GJB1032-90
      電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法
      GJB360A-96
      電子及電氣元件試驗(yàn)方法
      GJB2712-96
      測量設(shè)備的質(zhì)量保證要求計(jì)量確認(rèn)體係
      GJB150.21~150.22-87
      **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法
      GJB150.23-91
      **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法傾斜和搖擺試驗(yàn)
      GJB150.1~150.22-86
      **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法
      YY0027-90
      電熱恒溫培養(yǎng)箱
      JJG718-91
      溫度巡回檢測儀
      JJG350-94
      標(biāo)準(zhǔn)套管鉑電阻溫度計(jì)
      JJG161-94
      一等標(biāo)準(zhǔn)水銀溫度計(jì)
      JJF1059-1999
      測量不確定度評定與表示
      JJG1030-91
      恒溫槽技術(shù)性能測試規(guī)範(fàn)